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Hamamatsu Photonics 推出 iPHEMOS®-DDX 倒置发射显微镜，用于先进半导体封装失效分析
Hamamatsu Photonics introduces the iPHEMOS®-DDX inverted emission microscope for failure analysis of advanced semiconductor packages
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Hamamatsu Photonics 推出 iPHEMOS®-DDX 倒置发射显微镜，面向 AI chiplet、HBM、2.5D/3D 封装及大型半导体封装的失效分析。
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